ラマンイメージギャラリー

このページのすべてのイメージは、レニショーの inVia ラマンシステムと WiRE™ ソフトウェアで作成されたものです。これらの例は、これらのシステムで使用できる豊富なイメージ作成能力のほんの一部です。

レニショーでは、皆様からのラマンイメージの投稿を歓迎しておりますので、各国の事務所にご連絡ください。

ページコンテンツダウンロード各国事務所へのお問い合わせ オンラインでのお問い合わせ

薬錠

 

Tablet_batch1

錠剤成分の分布および濃度と対比させた錠剤の溶解反応

製造バッチ 1 の錠剤

薬錠成分の分布を示す StreamLine™ Plus イメージ

マッピング領域:6mm x 12mm

生成スペクトル:82,000

取得時間:38 分

 

Tablet_batch2

製造バッチ 2 の錠剤

薬錠成分の分布を示す StreamLine™ Plus イメージ

マッピング領域:6mm x 12mm

生成スペクトル:82,000

取得時間:38 分

多層グラフェンサンプル

 
 多層グラフェンサンプルのラマンイメージ

 

グラフェンの単層、二重層、その他の多層領域を特定

グラフェンフレークの様々な厚みの分布を示す StreamLine™ Plus イメージ

マッピング領域: 110µm x 120µm

生成スペクトル:40,000

取得時間: 14 分

CVD ダイヤモンドフィルム

 

研磨 CVD ダイヤモンドフィルム

CVD 技術により形成された多結晶ダイヤモンドフィルムの研磨面

結晶の形状、位置、圧力、欠陥密度の情報を示すイメージ

マッピング領域: 175µm x 88µm

生成スペクトル:51,200

取得時間:2 回のイメージング実験、各 15 回(最初の取得では 3 つのラマンイメージを作成、2 回目の取得では フォトルミネセンスイメージを作成)

イメージ 1:1332cm-1 ダイヤモンドバンドの 1cm-1 の位置変化を示すラマンイメージ

イメージ 2:1332cm-1 ダイヤモンドバンドの 2cm-1 の幅変化を示すラマンイメージ

イメージ 3:1332cm-1 ダイヤモンドバンドのピーク領域の変化を示すラマンイメージ

イメージ 4:1.68 eV 中性シリコン結晶の空孔 [Si-V]0 バンドの密度の変化を示すフォトルミネセンスイメージ

シリコンウェハーのミクロのくぼみ

 

シリコンインデント - ピークシフトのマップ

ピーク位置

カーブフィット分析によるピーク位置

マッピング領域:10µm x 10µm

生成スペクトル:10,000

取得時間: 36 分(1 回の取得結果を 2 つのイメージの分析に使用)

スキャンの詳細:圧電スキャニングステージを使用して 100nm ステップを達成

シリコンインデント - ピークシフトのマップ

ピーク幅

カーブフィット分析によるピーク幅

トリドン湖(スコットランド)の砂石

 

トリドン湖の砂石

鋭錐石(TiO2)(赤)、石英(SiO2)(緑)、赤鉄鉱(Fe2O3)(青)の分布を示す StreamLine™ Plus イメージ

セクション領域:500µm x 320µm

生成スペクトル:67,200

取得時間: 20 分

ポリマーラミネート(PS および PMMA)

 

ポリマーラミネート(PS および PMMA)

PMMA(赤)、エポキシ(緑)、PS(青)の分布を示すポリマーラミネートサンプルの StreamLine™ Plus イメージ

マッピング領域:240µm x 645µm

生成スペクトル:17,200

取得時間: 7 分

ひずみ Si-Ge クロスハッチ

 

Si-Ge_crosshatch

ひずみ構造を示す Si-Ge 半導体サンプルの StreamLine™ Plus イメージ。マップは Si-Si 510 cm-1 バンドの位置での変化(~0.2 cm-1 位置バンドの移動)を示します。このマップデータは、カーブフィットにより生成されたものです。

マッピング領域:129µm x 130µm

生成スペクトル:55,000

取得時間: 13 分

歯のセクション

 

歯のラマンイメージ

エナメル(緑)、象牙質(青)、高蛍光領域(赤)を示す歯のセクションの StreamLine™ Plus イメージ

マッピング領域:9 mm x 16 mm

生成スペクトル:84,000

取得時間: 20 分

多層グラフェンサンプル 
  

レーザー誘起結晶シリコントラック

 
アモルファス基板のレーザー誘起結晶シリコントラック

アモルファス基板のレーザー誘起結晶シリコントラックの StreamLine™ Plus イメージ

マッピング領域: 550µm x 550µm

生成スペクトル:70,000

取得時間: 17 分

シリコントラックの拡大図上のイメージの拡大領域(~250µm x 250µm)

Pharmaceutical tablet

Tablet dissolution behaviour correlated to distribution and concentration of tablet components

Tablet_batch1Tablet from production batch 1

StreamLine™ Plus image showing the distribution of ingredients in a pharmaceutical tablet

Map area: 6 mm x 12 mm

Spectra generated: 82,000

Acquisition time: 38 minutes

Tablet_batch2Tablet from production batch 2

StreamLine™ Plus image showing the distribution of ingredients in a pharmaceutical tablet

Map area: 6 mm x 12 mm

Spectra generated: 82,000

Acquisition time: 38 minutes

Multi-layered graphene sample

多層グラフェンサンプルのラマンイメージGraphene monolayer, bilayer and other multiple-layer regions identified

StreamLine™ Plus image showing the distribution of different thicknesses within a graphene flake

Map area: 110 µm x 120 µm

Spectra generated: 40,000

Acquisition time: 14 minutes

CVD diamond film

研磨 CVD ダイヤモンドフィルムPolished surface of polycrystalline diamond film grown by CVD technique

Images show information on crystal shape, orientation, stresses and defect densities.

Map area: 175 µm x 88 µm

Spectra generated: 51,200

Acquisition time: 2 imaging experiments, 15 minutes each (first acquisition used to generate three Raman images, second acquisition used to generate photoluminescence image).

Image 1: Raman image showing 1 cm-1 variation in position of the 1332 cm-1 diamond band

Image 2: Raman image showing 2 cm-1 variation in width of the 1332 cm-1 diamond band

Image 3: Raman image showing variation in peak area of the 1332 cm-1 diamond band

Image 4: Photoluminescence image showing variation in the intensity of the 1.68 eV neutral silicon vacancy [Si-V]0 band.

Micro indentation in silicon wafer

シリコンインデント - ピークシフトのマップPeak position

Peak position derived from curve-fit analysis

Map area: 10 µm x 10 µm

Spectra generated: 10,000

Acquisition time: 36 minutes (single acquisition analysed for both images)

Scan details: 100 nm step achieved using piezoelectric scanning stage

シリコンインデント - ピークシフトのマップPeak width

Peak width derived from curve-fit analysis

Sandstone from Loch Torridon, Scotland

トリドン湖の砂石StreamLine™ Plus image showing the distribution of Anatase (TiO2) (red), Quartz (SiO2) (green) and Haematite (Fe2O3) (blue)

Area of section: 500 µm x 320 µm

Spectra generated: 67,200

Acquisition time: 20 minutes

Polymer laminate (PS and PMMA)

ポリマーラミネート(PS および PMMA)StreamLine™ Plus image of polymer laminate sample showing the distribution of PMMA (red), epoxy (green) and PS (blue)

Map area: 240 µm x 645 µm

Spectra generated: 17,200

Acquisition time: 7 minutes

Strained Si-Ge cross-hatch

Si-Ge_crosshatchStreamLine™ Plus image of a Si-Ge semiconductor sample exhibiting a strained structure. The map shows variation in the Si-Si 510 cm-1 band position (~ 0.2 cm-1 positional band shift). The map data were generated using curve fitting.

Map area: 129 µm x 130 µm

Spectra generated: 55,000

Acquisition time: 13 minutes

Tooth section

歯のラマンイメージStreamLine™ Plus image of a sectioned tooth, highlighting the enamel (green), dentine (blue) and areas of high fluorescence (red)

Map area: 9 mm x 16 mm

Spectra generated: 84,000

Acquisition time: 20 minutes

Laser induced crystalline silicon tracks

アモルファス基板のレーザー誘起結晶シリコントラックStreamLine™ Plus image of laser induced crystalline silicon tracks on amorphous substrate

Map area: 550 µm x 550 µm

Spectra generated: 70,000

Acquisition time: 17 minutes

シリコントラックの拡大図Zoomed region (~ 250 µm x 250 µm) of above image

お問い合わせ

詳細価格についてのお問い合わせは、オンラインでお寄せ下さい。直接コンタクトをご希望の場合は、 現地レニショーオフィスまでご連絡ください。